顆粒圖像分析顯微系統

一、上海光學儀器一廠研制的顆粒粒度分析顯微系統，將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法粉煤灰檢測分析儀器，由檢測顯微鏡、數字CCD攝像機和圖像處理分析軟件組成。該系統通過專用的數字攝像機將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理，具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。

二、主要組成部分

1.光學系統：原廠設計制造，無限遠色差校正CCIS光學系統

2.觀察鏡筒：30°鉸鏈式三目觀察頭，瞳距：55mm-75mm

3.平場目鏡：10X/20mm（帶10X十字分劃目鏡）

4.物鏡：物鏡：5×、10×、20×、50×

5.顯微鏡總放大倍率：50×、100×、200×、500×

6.轉換器：四孔轉換器，可調中心

7.調焦機構：透反兩用機架，低手位粗微同軸調焦機構。粗調行程30mm，微調精度0.002mm。帶有防止下滑的調節松緊裝置和隨機上限位裝置

8.光源及光路：自適應寬電壓100-240V，透射燈室12V50W預置中心，柯拉照明，帶可變視場光闌

9.顯微鏡工業成像系統

10.顆粒粒度分析軟件

11.計算機

注:詳細技術資料，請找銷售客服索取021-5522 8110/5522 8660