物質的檢測方法有哪些

　　均質晶體是檢測的晶體特光學各向同性，而對于任何方向的光的檢測則是會發生折率性。

　　因此在正交偏光鏡下進行檢測的均質晶體是檢測的晶體特光學各向同性，則不會形成干涉現象。

　　而對于一軸晶體物質上所出現的干涉現象，則是由于晶體物質中的切片方向不同可以分為垂直光軸切片與

　　斜交光軸切片和平行光軸切片三種。

　　因此對于晶體物質的垂直光軸的切片來說，它的晶體物質的光體率的光軸則是平行于顯微鏡的鏡筒中心軸。

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