測定晶體顆粒、雜物時需要注意的

　　如果我們在測定晶體顆粒、查或是類雜物時，則需要遵守兩個原則來進行選擇負荷，

　　壓頭或是壓入深度不大于其厚度的十分之一。

　　壓痕的對角線長度則不應當大于其面積的五分之一，測定其試件平均硬度時，在試件表面尺寸以及其厚度

　　允許的前提下，需盡量的選擇大負荷。

　　以避免試件材料結構組織硬度不均勻從而影響試件硬度測定的正確性，為了保證測量的精確度，

　　在情允許的情況時則需要選擇大負荷。

　　一般應使得壓痕的對角線長度大于二十微米，考慮到試件表面冷加工時產生的擠壓應力硬化層的影響，在

　　選擇負荷時應在情況許可的情況下選擇大負荷。

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上海光學儀器廠是國內較早成立大型綜合類光學儀器的生產企業，以顯微鏡、光學儀器、測量工具顯微鏡、生物顯微鏡、測量投影儀、影像測量儀、工具顯微鏡、分光光度計、折射儀等見長，在國內久負盛名。上海顯微鏡企業全面改制后，開發了與電腦……

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